射频&测试设备
芯片端测试模组
模组规格模组尺寸90*136*29mm接触DUT材料PEEK接触方式探针理论寿命100K。
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芯片端测试模组
产品说明

能在85%湿度和85°C的温度下测试芯片或集成电路产品的功能或老化试验

产品特性

能在85%湿度和85°C的温度下测试芯片或集成电路产品的功能或老化试验

适用于小于等于0.3mm Picth的连接器DUT

能满足5*20=100DUT 并行测试的要求

PCB连接器插件传输,使测试通信更加稳定


产品规格

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